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全自动芯片周围外观检测装备

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全自动芯片周围外观检测装备

主要应用于光通讯、高功率激光芯片等单芯片外观检测；；；检测缺陷类型：：：脏污、划痕、崩边、异色、解理纹、膜层脱落等;

AOI-LD420机型是针对激光芯片外观检查所开发的高精度镜检系统，，应用于Chip晶粒制程中的缺陷检查，，节约人力，，提升制程的品质稳固性！！１鞠低郴谙该茉硕图跽鹌教，，搭载纳米级光学系统，，焦点视觉系统接纳古板算法和AI算法连系，，完成芯片取放，，AR面/HR面/P面/N面的检查，，识别芯片编号和关联对应输有缺陷信息;

产品咨询电话：：：13811928592（毛总）
产品咨询邮箱：：：jian.mao@incubecn.com

  • 易操作，，快速建模，，类似产品可自动天生模板

  • 基于深度学习的缺陷检测+古板算法辅助，，参数可自由设定卡控

  • 支持离线复判，，支持报表订制修改

  • 可实现不破膜取料，，降低产品损伤率

  • 可实现订制吸嘴，，减小压伤风险

  • 纳米级高精度光学检测平台

  • 定制镜头，，支持选配微弱解理纹专项检测

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